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產品綜述
6433P光波元件分析（xī）儀是麵向高速電光器件（jiàn）、光（guāng）電器件（jiàn）及光（guāng）光器件（jiàn）調製特性測試的儀器，頻率範圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測（cè）試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特（tè）性，主要應用於高速電光器件（jiàn）（電光強度調製器、直接調製激（jī）光器（qì）、光發射組件（jiàn））、光電器件（探測器、光發（fā）射組（zǔ）件、探測器芯（xīn）片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響（xiǎng）參數的測試。
功能特點
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主要特點
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；
最小頻率分辨率1Hz；
測試功（gōng）能豐（fēng）富，具備傳輸、反射等多種（zhǒng）參數測試功能；
一體化多功能測試界麵（miàn）；
向導式校準及一鍵式快（kuài）速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分析；
自動夾具移（yí）除，快速（sù）獲取探針數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程（chéng）控（kòng）指令集（jí），可實現自動測試
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10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋
6433P光波元件（jiàn）分析儀調製頻率最高可達110GHz，最小頻率分辨率為1Hz，可實（shí）現高速寬頻（pín）帶光（guāng）器件及（jí）光芯片調製特（tè）性測試。
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一（yī）體化多功能測試向（xiàng）導界麵
6433P光波元件分析儀具備電電、電光（guāng）、光電、光光四（sì）種測量模式，功能模式之間可任意切換，可滿（mǎn）足光器件（jiàn）的S參數、阻抗、時域等參數（shù）測量需求。一（yī）體化多功能界麵方（fāng）便用戶快速完成測量模（mó）式、光波參數、光路去嵌入參數（shù）、射頻去嵌入等參數的設置。
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向導式校準及一（yī）鍵式測試
6433P光波元件分析儀（yí）進行微波域的電電校準及光波域的光路校（xiào）準（zhǔn）時，采用（yòng）向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得（dé）被測（cè）件準確的測試結果。同時采用一體化（huà）集成設計方案，利用核心算法，實現電光/光電/光光（guāng）器件一鍵式寬帶快速掃（sǎo）頻測試。
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多窗（chuāng）口快速（sù）顯示及分析
6433P光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗（chuāng）口，每個窗口最多可同時顯示16條測試軌跡，可實現結果（guǒ）的多窗口、多格（gé）式顯示。
高分辨率多（duō）點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇操作，快捷高效，便於用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗。
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自動夾（jiá）具移除（chú），快速獲取探針（zhēn）數據
6433P光波元件分析儀利用自（zì）動夾具移除功能（néng）可快速解（jiě）決光芯片S參數測試難題。測試時，將高（gāo）頻探針等效為夾具，通過自動夾具移（yí）除功能測量（liàng）高頻（pín）探針的時域參數，利用信號流圖提取頻域（yù）參數，形成s2p文件（jiàn），進而通過射頻去嵌入，實現光（guāng）芯（xīn）片的高精度S參數測試。
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型號 |
調製頻率（lǜ）範（fàn）圍 |
工作波（bō）長 |
光功率測試範圍 |
動態（tài）範（fàn）圍 |
對比 |
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