聯(lián)係電話:
400-168-4191
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編號 |
名稱 |
描述 |
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|---|---|---|---|
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6433D |
光波元件分析(xī)儀 |
頻率範圍:10MHz~26.5GHz |
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6433F |
光波元件分析儀 |
頻率範圍:10MHz~43.5GHz |
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6433H |
光波元件分析儀 |
頻率範圍:10MHz~50GHz |
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6433L |
光波元(yuán)件分析儀 |
頻率範圍:10MHz~67GHz |
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編號 |
名稱 |
描述 |
選配 |
|---|---|---|---|
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6433L-405 |
四端口(kǒu)T型偏置器(qì) |
內部配置4個T型偏置器,用於端口輸出直流偏置電壓,必選6433L-400+6433L-401+6433L-404,與6433L-403不可(kě)同時選(xuǎn)配(pèi)。 |
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6433L-404 |
四端(duān)口可配(pèi)置測試裝置 |
對(duì)四端口機型的測試裝置進行擴展,增加麵板跳線(xiàn),可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機,必選(xuǎn)6433L-400。 |
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6433L-402 |
有源互調失真測量 |
用於有源(yuán)互調失真信號測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S20。 |
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6433L-401 |
四端口程控步進衰減器 |
配置(zhì)源通路4個50dB程控步進衰減器,接收機通路(lù)4個50dB程(chéng)控步進衰減器,必選6433L-400+6433L-404。 |
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6433L-400 |
四端口測(cè)量 |
雙(shuāng)源激(jī)勵四端口光波元件分析儀(yí)配置,頻(pín)率範圍(wéi)10MHz ~67GHz。 |
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6433L-205 |
二端(duān)口T型偏置器 |
內部配置(zhì)2個T型偏置器(qì),用於端口輸出直流偏置電壓,必選6433L-201+6433L-204,與6433L-203不可同時選配。 |
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6433L-204 |
二端口可配置測試裝置 |
對二端口機(jī)型的測試裝置進(jìn)行擴展,增加麵板跳線,可(kě)獨立(lì)使(shǐ)用A、B、R1、R2 接收機。 |
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6433L-201 |
二端口程控步進衰減器 |
配置源通路(lù)2個50dB程控步進衰(shuāi)減(jiǎn)器,接收機通路2個50dB程控步進衰減器,必選6433L-204。 |
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6433L-023 |
混頻器矢(shǐ)量測量功能 |
用於混頻器矢量參數(shù)測量,二端口必選6433L-204+6433L-S20,四端口必選6433L-404+6433L-S20。 |
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6433L-012 |
多功能光波分析裝置 |
頻率範(fàn)圍:10MHz~67GHz,用於對(duì)光波(bō)的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
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6433L-011 |
OE標準件 |
頻率範圍:10MHz~67GHz,用於對光電測(cè)試模塊的數據校驗。 |
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6433L-008 |
脈衝測(cè)量 |
用於脈衝狀態下S參數測(cè)量。 |
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6433H-405 |
四(sì)端口T型偏置器(qì) |
內部配置4個T型偏置器,用於端口輸出(chū)直流偏置電(diàn)壓,必選6433H-400+6433H-401+6433H-404,與(yǔ)6433H-403不可同時選配。 |
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6433H-404 |
四端口可配置測試裝置 |
對四端口機(jī)型(xíng)的測試裝置進(jìn)行擴展,增加麵板跳線,可(kě)獨(dú)立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機,必選6433H-400。 |
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6433H-402 |
有源互調失真測量 |
用於(yú)有源互調失真信號測量,必選(xuǎn)6433H-400+6433H-404+6433H-S20。 |
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6433H-401 |
四端口程(chéng)控步進衰減器 |
配置源通路4個60dB程控步進衰減器,接收(shōu)機通路4個(gè)35dB程控步進衰(shuāi)減(jiǎn)器,必選6433H-400+6433H-404。 |
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6433H-400 |
四(sì)端口測量 |
雙源激勵四(sì)端口光波元件分析(xī)儀配置,頻率範圍10MHz ~50GHz。 |
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6433H-205 |
二端口T型偏置器 |
內部(bù)配置2個T型偏置器,用於端口輸出直(zhí)流(liú)偏置電壓,必選6433H-201+6433H-204,與(yǔ)6433H-203不可同時選配。 |
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6433H-204 |
二端口可配置測試裝(zhuāng)置(zhì) |
對二端口機(jī)型的測試裝置進行擴展,增加麵板跳線,可獨(dú)立使(shǐ)用A、B、R1、R2 接(jiē)收機。 |
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6433H-201 |
二端口(kǒu)程控步進衰減器 |
配置源通路2個60dB程控步進衰減器,接收機通路2個35dB程控步進衰減器,必選6433H-204。 |
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6433H-023 |
混頻器矢量測量功能 |
用於混頻器矢量參數測量,二端口(kǒu)必(bì)選(xuǎn)6433H-204+6433H-S20,四端口必選6433H-404+6433H-S20。 |
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6433H-012 |
多功能光波分析裝置 |
頻率範圍(wéi):10MHz~50GHz,用於對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
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6433H-011 |
OE標(biāo)準件 |
頻率範圍:10MHz~50GHz,用於對(duì)光電測試(shì)模塊的(de)數據校驗。 |
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6433H-008 |
脈衝測量 |
用於脈衝狀態下S參數測(cè)量。 |
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6433H-003 |
噪聲係數測量 |
用於(yú)S參數、噪聲係數和噪聲參數的精確測量,二端(duān)口必(bì)選6433H-201+6433H-204,四(sì)端口必選6433H-401+6433H-404。 |
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6433F-405 |
四端口T型偏置器 |
內部配置4個T型偏置器,用於端口(kǒu)輸出直流偏置電壓(yā),必(bì)選6433F-400+6433F-401+6433F-404,與6433D-403不可同時選配。 |
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6433F-404 |
四端口可配置測(cè)試裝置(zhì) |
對四端口機型的(de)測試(shì)裝置進行擴展,增加麵板跳線,可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機,必選6433F-400。 |
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6433F-402 |
有源互調失真測量 |
用於有源互調失真信號測量,必選6433F-400+6433F-404+6433F-S20。 |
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6433F-401 |
四端口程控步進衰減器 |
配置源通路4個60dB程控步進衰減(jiǎn)器,接收機通路4個35dB程控步(bù)進衰減器,必選6433F-400+6433F-404。 |
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6433F-400 |
四端口測量 |
雙源激勵四端口光(guāng)波元件分析儀配置,頻率範圍10MHz ~44GHz。 |
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6433F-205 |
二端口T型偏置器(qì) |
內部(bù)配置2個T型偏置器,用於端口(kǒu)輸出(chū)直流偏置電壓,必選6433F-201+6433F-204,與6433F-203不(bú)可同時選配。 |
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6433F-204 |
二端口可(kě)配置測試裝置 |
對二端口機型的測試(shì)裝置進行擴展,增加麵(miàn)板跳線,可獨立使用A、B、R1、R2 接收機。 |
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6433F-201 |
二端口程控步進衰減(jiǎn)器(qì) |
配置源通路2個60dB程(chéng)控步進衰減器,接收機(jī)通路2個35dB程控步進衰減器,必選(xuǎn)6433F-204。 |
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6433F-023 |
混頻器矢量測量(liàng)功能 |
用於混頻器矢量參數測量,二端口必選(xuǎn)6433F-204+6433F-S20,四端口必選6433F-404+6433F-S20。 |
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6433F-012 |
多功(gōng)能光波分析(xī)裝置 |
頻率範圍:10MHz~44GHz,用(yòng)於對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
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6433F-011 |
OE標準件(jiàn) |
頻率範圍:10MHz~44GHz,用於對光電測試模塊的數據校(xiào)驗。 |
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6433F-008 |
脈衝測量 |
用(yòng)於脈(mò)衝狀(zhuàng)態下S參數測量。 |
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6433F-003 |
噪(zào)聲係數測量 |
用於S參數、噪(zào)聲係數和噪聲(shēng)參數(shù)的精確測量,二端口必選6433F-201+6433F-204,四端口必(bì)選6433F-401+6433F-404。 |
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6433D-405 |
四端口T型偏置(zhì)器 |
內部配置4個T型偏置器用於端口輸出直流偏置電(diàn)壓,必選6433D-400+6433D-401+6433D-404,與6433D-403不可同時選(xuǎn)配。 |
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6433D-404 |
四端(duān)口可配置測試裝置 |
對四端口機型(xíng)的測試裝置進行擴展(zhǎn),增加(jiā)麵板跳線,可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接(jiē)收(shōu)機,必選6433D-400。 |
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6433D-402 |
有源互調失真測量 |
用於有源互調失(shī)真信號測量,必選6433D-400+6433D-404+6433D-S20。 |
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6433D-401 |
四端口程控步進衰減器 |
配置源通路4個70dB程控步進衰減器,接(jiē)收機通路4個35dB程(chéng)控步進衰減器,必(bì)選6433D-400+6433D-404。 |
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6433D-400 |
四端口測量 |
雙(shuāng)源激勵四(sì)端口光波元件分析儀配置,頻率範圍10MHz ~20GHz。 |
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6433D-205 |
二端口T型偏置器 |
內部配置2個T型偏置器,用於端口(kǒu)輸出直流偏置電壓,必選6433D-201+6433D-204,與6433D-203不可同時選配。 |
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6433D-204 |
二端口可配置測試裝置 |
對二端(duān)口機型的測試裝(zhuāng)置進行擴展,增加麵板跳線,可獨立使用A、B、R1、R2接收機。 |
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6433D-201 |
二端口程控步進衰減器 |
配置源通路2個70dB程控步進衰減器,接收機通路2個35dB程控步進衰減(jiǎn)器,必選6433D-204。 |
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6433D-023 |
混頻器矢量測量功(gōng)能 |
用於混(hún)頻器矢量參數測量,二端口必選6433D-204+6433D-S20,四端口必選6433D-404+6433D-S20。 |
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6433D-012 |
多功能光(guāng)波分析裝置 |
頻率範圍:10MHz~20GHz,用於對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。 |
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6433D-008 |
脈(mò)衝測量 |
用於(yú)脈衝狀態下(xià)S參數測量。 |
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6433D-003 |
噪聲係數測量 |
用於S參數、噪聲係數和噪聲參數的精確測量,二端口必選6433D-201+6433D-204,四端口必選6433D-401+6433D-404。 |
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編號 |
名稱 |
描述 |
選配 |
|---|---|---|---|
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6433L-EWT1 |
保修期(qī)以外延長保修1年 |
保(bǎo)修期以外延(yán)長保修1年,2年延保可選2項(xiàng),以此類推,服務不含校準,僅含單程貨品(pǐn)運費。 |
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6433L-S30 |
頻譜(pǔ)分析功能 |
用於提供(gòng)多通道頻譜(pǔ)測試(shì)功能。 |
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6433L-S28 |
相(xiàng)位掃(sǎo)描測量功能 |
用於(yú)相位掃(sǎo)描測量,必選6433L-400。 |
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6433L-S26 |
增益壓縮測量功能 |
用於放大器等有源器件的增益壓縮測量。 |
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6433L-S24 |
嵌入式本振(zhèn)變頻器測量功能 |
用於(yú)內嵌本振變(biàn)頻器測量,二端口必選6433L-204+6433L-S20,四端口必選6433L-404+6433L-S20,必選6433L-S22或6433L-023。 |
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6433L-S22 |
混頻器標量(liàng)測量功能 |
用於混(hún)頻(pín)器標量參(cān)數測量,必選6433L-S20。 |
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6433L-S20 |
頻(pín)偏測(cè)量功能 |
用於頻率偏移測量。 |
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6433L-S18 |
快速連續波掃描功能 |
使用FIFO 緩衝法,即時讀取數據。 |
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6433L-S16 |
真實差分測量功能 |
用於(yú)真(zhēn)實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S28。 |
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6433L-S11 |
高級時域分析 |
用於TDR時域阻抗測試、眼圖分(fèn)析等,購買6433L-S11贈送6433L-S10。 |
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6433L-S10 |
高級時域分析 |
用於(yú)TDR時域阻抗測試、眼圖分析等,購(gòu)買6433L-S11贈送6433L-S10。 |
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6433L-S07 |
自動夾具移除功能 |
用於(yú)單端及平衡器件測量夾具自動測試(shì)及移除 |
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6433L-S05 |
S參數信(xìn)號完整性分析功(gōng)能 |
用於分析係統的頻域、時(shí)域TDR 和串擾等信號完整性(xìng)特性,可自動將圖形曲(qǔ)線轉(zhuǎn)換成測(cè)試報告。 |
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6433H-EWT1 |
保修期以外延長保修1年 |
保修期以外延長保修1年,2年延保可選2項,以(yǐ)此類推,服務不(bú)含校準,僅含單程(chéng)貨(huò)品運費。 |
|
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6433H-S30 |
頻譜分析功能 |
用於提供多通道頻(pín)譜測(cè)試功能。 |
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6433H-S28 |
相位掃描測量功能 |
用於相(xiàng)位掃描測量,必選6433H-400。 |
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6433H-S26 |
增益壓縮測(cè)量功(gōng)能 |
用於放大器等(děng)有源器件的增益壓(yā)縮測量。 |
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6433H-S24 |
嵌入式本振變頻器測量功能 |
用於內嵌本振變頻器測量,二端口必(bì)選6433H-204+6433H-S20,四端口必(bì)選6433H-404+6433H-S20,必選6433H-S22或6433H-023。 |
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6433H-S22 |
混頻(pín)器(qì)標量測量功能 |
用於混頻器標量參數測量(liàng),必選6433H-S20。 |
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6433H-S20 |
頻偏測量(liàng)功能 |
用於頻率偏移(yí)測量。 |
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6433H-S18 |
快速連續波掃描功能 |
使用FIFO 緩衝法,即時讀取(qǔ)數據。 |
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6433H-S16 |
真實差分測量功(gōng)能(néng) |
用(yòng)於真(zhēn)實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433H-400+6433H-404+6433H-S28。 |
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6433H-S11 |
高級時域分析 |
用於TDR時域(yù)阻(zǔ)抗(kàng)測試、眼圖分析等,購買6433H-S11贈送6433H-S10。 |
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6433H-S10 |
時域(yù)測(cè)量 |
用於時域測量,可確(què)定器件、夾具或電纜中不(bú)連續位置並進行分析 |
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6433H-S07 |
自動(dòng)夾(jiá)具移除功能 |
用於(yú)單端及平衡器件測量夾具自動測試及移除 |
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6433H-S05 |
S參數信號完整性分析功能 |
用於(yú)分析係統的(de)頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特性,可自動將圖形曲線轉換成測試報(bào)告。 |
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|
6433F-EWT1 |
保(bǎo)修期以外延長保修1年 |
保修期以外延長保修1年,2年延保可選2項,以此類推,服務不含校準,僅含單程貨品運(yùn)費。 |
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|
6433F-S30 |
頻譜分析功能 |
用於(yú)提供(gòng)多(duō)通道頻譜測試功能。 |
|
|
6433F-S28 |
相位掃描(miáo)測量功能 |
用於相位掃描測量,必選6433F-400。 |
|
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6433F-S26 |
增(zēng)益(yì)壓縮測量功能 |
用於放大器等有源器件的增益壓縮測量。 |
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6433F-S24 |
嵌入式本(běn)振變頻器(qì)測量功能 |
用(yòng)於(yú)內嵌本振變頻器測(cè)量(liàng),二端口必選6433F-204+6433F-S20,四端(duān)口必選(xuǎn)6433F-404+6433F-S20,必選6433F-S22或6433F-023。 |
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6433F-S22 |
混頻器標量測量功能(néng) |
用(yòng)於混頻器標量參數測量,必選6433F-S20。 |
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|
6433F-S20 |
頻偏測量功能 |
用於頻率偏移測量。 |
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6433F-S18 |
快速連(lián)續(xù)波掃描功能 |
使用FIFO 緩衝法,即時(shí)讀取數據。 |
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6433F-S16 |
真實差分測量功能 |
用於真實差模、共模激勵平衡參數測量(liàng),必選6433F-400+6433F-404+6433F-S28。 |
|
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6433F-S11 |
高級時域分析(xī)功能(néng) |
用於TDR時域(yù)阻抗(kàng)測試、眼圖分析等,購買6433F-S11贈送6433F-S10。 |
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6433F-S10 |
時域測量(liàng)功能 |
用於(yú)時域測量,可確定器(qì)件、夾具或電纜中不連續位置並進(jìn)行分析 |
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6433F-S07 |
S參數信號(hào)完整性分析功能 |
用於分析係統的頻域(yù)、時域TDR 和串擾等信號完整性特性,可自動(dòng)將(jiāng)圖形曲線轉換(huàn)成測試報告。 |
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6433F-S05 |
四端口T型偏置器 |
內部配置4個T型偏置器,用於(yú)端(duān)口輸出直流偏置電壓(yā),必選6433F-400+6433F-401+6433F-404,與6433D-403不(bú)可同時選配。 |
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6433D-EWT1 |
保修期以外(wài)延長保修1年 |
保修期以外延長保修1年,2年延保可選2項,以此類推,服務不含校準,僅含(hán)單(dān)程貨品運費。 |
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6433D-S30 |
頻譜分析功能 |
用於(yú)提供多通道(dào)頻譜測試功(gōng)能。 |
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6433D-S28 |
相位掃描測量功能 |
用於相位掃(sǎo)描測量,必選6433D-400。 |
|
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6433D-S26 |
增(zēng)益壓(yā)縮測量功能 |
用於放大器等有源器件的(de)增益壓縮測量。 |
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6433D-S24 |
嵌入式(shì)本振變頻器測量(liàng)功能 |
用於內嵌本振變(biàn)頻器測量,二端(duān)口(kǒu)必選6433D-204+6433D-S20,四端口必選(xuǎn)6433D-404+6433D-S20,必選6433D-S22或6433D-023。 |
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6433D-S22 |
混頻器(qì)標量測(cè)量功能 |
用於混頻器(qì)標量參(cān)數測量,必(bì)選6433D-S20。 |
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6433D-S20 |
頻偏(piān)測量功能 |
用於頻率偏移測(cè)量。 |
|
|
6433D-S18 |
快速連續(xù)波(bō)掃描功能 |
使用FIFO 緩衝法,即時讀取數據。 |
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6433D-S16 |
真實差分測量功能 |
用於真實差模、共(gòng)模(mó)激勵平(píng)衡參(cān)數測(cè)量,必選6433D-400+6433D-404+6433D-S28。 |
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6433D-S11 |
高級時域分析功能 |
用於TDR時(shí)域阻抗測試、眼圖分(fèn)析等,購買6433D-S11贈送6433D-S10。 |
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6433D-S10 |
時域測量功能 |
用於(yú)時(shí)域測量,可確定器件、夾具或電(diàn)纜中不(bú)連續位置並進行分析。 |
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6433D-S07 |
自動夾具移除功能 |
用於單端及平衡器(qì)件測(cè)量夾具自動測試及移除。 |
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6433D-S05 |
S參數(shù)信號(hào)完(wán)整性分析功能 |
用於分(fèn)析係統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特(tè)性,可自動將圖形曲線轉換成(chéng)測試(shì)報告。 |
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